一：基本參數(shù)

1 、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～+100(150)℃
2 、溫度波動度：±0.5℃
3 、溫度偏差：≤2℃
4 、升降溫速率：0.7～1℃/min

該設(shè)備是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的:
GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則

設(shè)備用途：
  該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。 該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫及其循環(huán)變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

結(jié)構(gòu)特征：
  本設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼板，箱門中間設(shè)大面積觀察窗并配觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗情況。外型整體美觀大方。保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細玻璃棉，具有強度高，保溫性有好等特點。本設(shè)備采用標(biāo)準(zhǔn)化多功能設(shè)計、有程序運行和恒定運行功能。主控制儀采用韓國進口專用觸摸屏溫度控制儀，液晶LCD顯示，具有通訊接口，大容量程序，操作簡單，用戶可自定義溫度控制曲線進行溫度試驗。升溫、降溫獨立，獨特的BTHC平衡調(diào)溫方式。具有定時功能。制冷系統(tǒng)采用全封閉進口壓縮機組，機械式單級制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，全自動控制與安全保護協(xié)調(diào)系統(tǒng)。加熱采用不銹鋼翅片加熱管。